利用光的干涉規(guī)律可以檢測(cè)工件表面的平整度與設(shè)計(jì)要求之間的微小差異?,F(xiàn)將精度很高的標(biāo)準(zhǔn)玻璃板(樣板),放在被檢查工件上面,如圖甲所示,在樣板的左端墊一薄片,使標(biāo)準(zhǔn)玻璃板與被檢查平面之間形成一楔形空氣膜。用平行單色光向下照射,檢查不同平面時(shí),可觀察到圖乙或圖丙的干涉條紋。下列說法正確的是( ?。?/h1>
【考點(diǎn)】用薄膜干涉檢查工件的平整度.
【答案】B
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布:2024/5/27 14:0:0組卷:156引用:1難度:0.8
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