光的干涉現(xiàn)象技術(shù)中行許多應(yīng)用。圖甲是利用干涉檢查平面平整度裝置,下列說(shuō)法正確的是( ?。?/h1>
【考點(diǎn)】用薄膜干涉檢查工件的平整度.
【答案】C
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
聲明:本試題解析著作權(quán)屬菁優(yōu)網(wǎng)所有,未經(jīng)書面同意,不得復(fù)制發(fā)布。
發(fā)布:2024/4/20 14:35:0組卷:249引用:5難度:0.6
相關(guān)試卷