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在科學(xué)實(shí)驗(yàn)時(shí),為了減小誤差或?qū)ふ移毡橐?guī)律,經(jīng)常需要進(jìn)行反復(fù)多次實(shí)驗(yàn)。
①“測(cè)量物體的長(zhǎng)度”時(shí),多次測(cè)量;
②“研究反射角等于入射角”時(shí),多次改變?nèi)肷涔獾慕嵌龋謩e測(cè)量反射角和入射角;
③“探究平面鏡成像特點(diǎn):像距和物距的關(guān)系”時(shí),多次改變點(diǎn)燃的蠟燭的位置;上述多次測(cè)量中為了尋找普遍規(guī)律的是( ?。?/h1>

【考點(diǎn)】物理學(xué)方法的選擇
【答案】C
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布:2024/10/2 15:0:2組卷:18引用:3難度:0.7
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